DIN EN 60749-7-2012 半导体器件.机械和气候试验方法.第7部分:内部水分含量测量和其他残留气体分析

作者:标准资料网 时间:2024-05-19 21:34:51  浏览:9455   来源:标准资料网

【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part7:Internalmoisturecontentmeasurementandtheanalysisofotherresidualgases(IEC60749-7:2011);GermanversionEN60749-7:2011
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.第7部分:内部水分含量测量和其他残留气体分析
【标准号】:DINEN60749-7-2012
【标准状态】:现行
【国别】:德国
【发布日期】:2012-02-01
【实施或试行日期】:2012-02-01
【发布单位】:德国标准化学会(DE-DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:Calibration;Climate;Climatictests;Components;Definitions;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Environmentaltesting;Examination(qualityassurance);Integratedcircuits;Massspectrometers;Massspectrometry;Measurement;Measuringtechniques;Mechanicaltesting;Moisture;Moisturecontents;Residualgas;Residues;Semiconductordevices;Semiconductors;Testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:12P;A4
【正文语种】:德语