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IEC 60148-1969 半导体器件和集成微电路用字母符号

作者:标准资料网 时间:2024-05-19 18:03:15  浏览:9622   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:Lettersymbolsforsemiconductordevicesandintegratedmicrocircuits
【原文标准名称】:半导体器件和集成微电路用字母符号
【标准号】:IEC60148-1969
【标准状态】:作废
【国别】:国际
【发布日期】:1969
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IEC)
【起草单位】:IEC/TC47
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电子设备及元件;电子工程;半导体器件;集成电路;符号;半导体;电气工程
【英文主题词】:semiconductordevices;integratedcircuits;semiconductors;electricalengineering;electronicequipmentandcomponents;electronicengineering;symbols
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40;L55
【国际标准分类号】:2370;1260
【页数】:67P;A4
【正文语种】:英语


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基本信息
标准名称:铜及铜合金加工材外形尺寸检测方法 第1部分:管材
英文名称:Measuring method for dimensions and shapes of wrought copper and copper alloy—Part 1:Tube
中标分类: 冶金 >> 金属化学分析方法 >> 重金属极其合金分析方法
ICS分类: 冶金 >> 金属材料试验 >> 金属材料的其他试验方法
发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
发布日期:2011-01-14
实施日期:2011-11-01
首发日期:2011-01-14
作废日期:
主管部门:全国有色金属标准化技术委员会
提出单位:中国有色金属工业协会
归口单位:全国有色金属标准化技术委员会
起草单位:浙江海亮股份有限公司、浙江省冶金产品质量检验站有限公司、上海飞轮实业有限公司
起草人:曹建国、魏连运、孔水龙、郭莉、赵学龙、狄大江、倪琦国、董朝晖、杨章辉、黄路稠、黄登科、刘永
出版社:中国标准出版社
出版日期:2011-11-01
页数:24页
适用范围

GB/T26303的本部分规定了铜及铜合金管材的外形尺寸测量仪器及量具、试样制备、测定环境条件及检测方法、检测报告等。
本部分适用于铜及铜合金管材的外形尺寸检测。

前言

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目录

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引用标准

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所属分类: 冶金 金属化学分析方法 重金属极其合金分析方法 冶金 金属材料试验 金属材料的其他试验方法
Product Code:SAE AS4803
Title:Hose Assembly, Lined Silicone, 125 psi, Fixed Cavity Coupling, Potable Water, Straight Male to 90° Female
Issuing Committee:G-3, Aerospace Couplings, Fittings, Hose, Tubing Assemblies
Scope:Scope unavailable.